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      金屬鍍層測厚儀器

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      XAVU鍍層測厚儀

      型號:XAVU

      XAVU是一款一機多用型光譜儀,應用了先進的EFP算法和微光聚集技術,既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足成分分析。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

      1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統,最小測量面積達0.03mm²

      2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm

      3)核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度)

      4)配置智能抽真空系統,屏蔽大氣對低能元素的影響,對Al,Si,P等輕元素涂鍍層厚度以及成分測試精度更高,數據更加準確穩定

      5)裝配SDD硅漂移探測器,分辨率更高,能量線性好,較高的峰背比

      6)配置更高效數字多道技術,測試速度更快,計數率達到100000CPS,精度更高

      7)涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)

      8)成分分析范圍:鈉Na(11)- 鈾U(92)

      9)RoHS、鹵素有害元素檢測

      10)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作

      11)標配4準直器自動切換,最小測量面積可達0.03mm²

      12)配有微光聚集技術,最近測距光斑擴散度小于10%

       
      電鍍行業,環保檢測,通訊行業,汽車行業,五金建材,地址環保,精密電子.
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