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      推薦產品

      金屬鍍層測厚儀器

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      XAD-200全自動鍍層測厚儀

      型號:XAD-200多功能全自動

      XAD-200是一款上照式全元素光譜分析儀,可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區RoHS檢測及多元素成分分析,先進的算法及解譜技術解決了諸多業界難題。

      被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。 

      • 微小樣品檢測:最小測量面積0.008mm²

      • 變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-90mm

      • 自主研發的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量

      • 先進的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限

      • 高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積20/50mm²探測器

      • X射線裝置:微焦加強型射線管搭配聚焦裝置

      • 上照式設計:實現對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩高效率測量

      • 可編程自動位移:選配自動平臺,X210*Y230*Z145mm行程內無人值守自動測量

      • 多準直器自動切換

      1. 成分分析范圍:鋁(Al)- 鈾(U)

      2. 成分最低檢出限:1ppm

      3. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)

      4. 涂鍍層最低檢出限:0.005μm

      5. 最小測量直徑□0.1*0.3mm(最小測量面積0.03mm²)

          標配:最小測量直徑0.3mm(最小測量面積0.07mm²)

      6. 對焦距離:0-30mm

      7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*150mm

      8. 儀器尺寸:550mm*760mm*635mm

      9. 儀器重量:100KG

      10. XY軸工作臺移動范圍:100mm*150mm

      11. XY軸工作臺最大承重:15KG

      廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、環保檢測、地質地礦、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董、鋰電行業等多種領域。
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